TEM小室-IC測試

產(chǎn)品型號：FF-T02A
更新時間：2025-12-26

簡要描述：頻率高達3GHz甚至6GHz的TEM小室，可用于IEC 61967-2、IEC 61967 -8、SAE 1752-3、 IEC 62132-8以及GB/T 42968.2-2024標準對IC的測試。

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產(chǎn)品詳情

FF-T02A是一款高達3GHz甚至6GHz的TEM小室，對標FCC-TEM-JMC，適用于IC測試。

FF-T01A將設備的運行頻率范圍擴展至現(xiàn)有設備所不及的領(lǐng)域，從而能夠?qū)C集成電路進行從3GHz開始的傳導發(fā)射和抗擾度測試，該集成電路裝在一個可固定式的測試窗口(可增加快夾夾具)，安裝完成后，即可按照IEC 61967-2 、IEC 61967-8、 SAE 1752-3、IEC 62132-8 以及GB/T 42968.2-2024標準在3GHz以內(nèi)進行測試。IC測試不再局限于使用 YDT 1690.2-2007 舊標準來完成集成電路的EMC測試中的輻射抗擾度測試項目。

同系列產(chǎn)品支持定制開發(fā)。

參數(shù)：
外形尺寸：137*56*32mm

適用頻率：DC-3GHz（6GHz*）

VSWR：＜1.2

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